Görüntüleme Laboratuvarı
Cihaz Adı: TARAMALI ELEKTRON MİKROSKOBU (SEM)  Marka Model: JEOL JSM-7100-F
Çalışma Prensibi:
SEM odaklanmış elektron demetinin numune yüzeyini tarayıp, o yüzeyden görüntü elde edilmesini sağlayan bir elektron mikroskobu çeşitidir. Elektronlar numune atomlarıyla etkileşerek çeşitli sinyaller üretirler. Bu sinyallerin dedektörler tarafından algılanması sonucunda numunenin yüzey topografisi ve kompozisyonu hakkında bilgiler elde edilir.

Cihazda bulunan EDX ( Enerji Dağılım X Işını Spektrometresi ) dedektörü ile numunedeki elementlerin atomik yüzdeleri verilmektedir. Haritalama çalışmadı yapılmaktadır. 
Kullanım Alanları: SEM malzeme bilimi, kimya, eczacılık, adli tıp, jeoloji, diş hekimliği, inşaat sektörü gibi birçok alanda yaygın olarak kullanılmaktadır. Bu cihaz ile seramik, metal, polimer, ince film, jeolojik malzemeler ve biyolojik numunelerin morfoloji, boyut, bileşim özellikleri hakkında bilgiler elde etmek mümkündür.
Numune Kabul Şartları: Toz örnekler için en az 20mg. Numune boyutu en fazla 1cmx1cm olmalıdır.  

 

Cihaz Adı: GEÇİRİMLİ ELEKTRON MİKROSKOBU (TEM)  Marka Model: JEOL JEM-1400 PLUS

Çalışma Prensibi:
TEM çok ince bir örnek içinden geçirilen yüksek enerjili elektronların görüntülenmesi prensibine dayanır. Bu teknik sayesinde düşük büyütmelerden yüksek büyütmelere kadar morfolojik, yapısal ve elementel bilgiler alınabilmektedir.

Cihazda bulunan EDX ( Enerji Dağılım X Işını Spektrometresi ) dedektörü ile numunedeki elementlerin atomik yüzdeleri verilmektedir.

Kullanım Alanları: Biyoloji, tıp ve temel bilim alanlarında numunenin iç yapısının ayrıntılı olarak yüksek çözünürlük ve kontrastta görüntülenmesi, morfolojik araştırmalar, yapı-fonksiyon ilişkilerinin yorumlanması gibi birçok analiz yapılabilmektedir.
Numune Kabul Şartları: Minimum 10 mg toz örnek getirilmelidir. Toz örnekler ependorf içinde uygun sıvıda süspansiyona alınır ve homojen bir şeklide dağılana kadar ultrasonik banyoda tutulduktan sonra mikropipet yardımıyla karbon film kaplı grid üzerine 5-10 µL damlatılıp kurutulur.

 

Cihaz Adı: AFM  Marka Model: WITEC ALPHA 300RA
Çalışma Prensibi:

Atomik Kuvvet Mikroskobu, malzeme yüzeylerinin üç boyutlu topografik görüntülerini yüzeyi ince bir uç (cantilever) ile tarama yaparak elde etmektedir. İnce film, seramik, metal, polimer, yarı iletken, biyomalzeme gibi numunelerin çeşitli yüzey özelliklerinin (yüzey morfoloji ve pürüzlülüğü vb.) elde edilmesinde kullanılır.

Atomik kuvvet mikroskopu iki farklı teknik ile kullanabilmektedir. Bunlar; iğnenin yüzeye temas ettirilerek uygulandığı temas yöntemi, iğnenin yüzeye temas etmediği temassız yöntemidir.

Raman Spektroskopisi ile eşlenik çalışmakta böylece aynı bölgeden spektrum toplama olanağı da sağlanmaktadır.

Kullanım Alanları: AFM katı hal fiziği, yarı iletken teknolojisi, moleküler mühendisliği, polimer fiziği ve kimyası, yüzey kimyası, moleküler biyoloji, ve tıp gibi doğal bilimler gibi birçok alanda uygulanabilir.
Numune Kabul Şartları: Numune kabul koşulları: min örnek numune boyutu1*1 cm lik kaplama şeklinde olmalıdır.

 

Dilek ve Önerileriniz İçin RİMER
(Rektörlük İletişim Merkezi)