Mika üzerine kaplanan Grafen Oksit numunesine ait ölçümler laboratuvarımız bünyesinde bulunan WITEC ALPHA 300 RA cihazı gerçekleştirilmiştir. Atomik Kuvvet Mikroskobu ve Raman Spektroskopisi olarak eşlenik çalışan sistemde grafen oksitlerin iki ve üç boyutlu görüntüleri alınmış olup aynı zamanda spektrum ölçümleri de gerçekleştirilmiştir. Gözlemlenen grafen oksit tabakalarının yükseklik profili analizine dayanarak katman kalınlığı belirlenmiştir.

 
            AFM ölçümleri noncontact modunda, 10X10 µm tarama boyutunda, 20x objektif kullanılarak yapılmış olup Raman ölçümleri 532 nm dalga boyunda lazer kullanılarak yapılmıştır.

• Grafen oksit topography görüntüsü ve grafen oskit tabakalarına karşılık gelen yükseklik kesit profili 

• ·         3D topography görüntüsü ve Raman Spektrumu